ASTM RR-D01-2000 2020 D8331/D8331M-Стандартный метод испытаний для измерения толщины пленки тонкопленочных покрытий неразрушающими методами с использованием прочных оптических помех
Стандартный метод испытаний ASTM D8331 для измерения толщины тонкопленочных покрытий неразрушающим методом с использованием усиленной оптической интерферометрии. Этот метод подходит для измерения общей толщины пленки однослойных покрытий, таких как грунтовки или многослойные органические системы рулонного покрытия.
ASTM RR-D01-2000 2020 Ссылочный документ
ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний