Область применения и направленность этого документа относятся к методам TLP-тестирования полупроводниковых компонентов. Основное внимание в документе уделяется квазистатическому применению методов тестирования TLP, однако эти методы также могут применяться для изучения переходного поведения полупроводниковых компонентов. Цель Целью документа является установление методологии тестирования и предоставления информации, связанной с импульсным тестированием линии передачи (TLP). В этом документе рассматриваются системы TLP, применяющие квазипрямоугольные импульсы с широким диапазоном длительности импульса и времени нарастания. Все такие системы называются системами TLP.