GB/T 17359-2023 (Англоязычная версия) Микролучевой анализ элементов с атомным номером не менее 11 и энергетическая спектрометрия для количественного анализа - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 17359-2023
Микролучевой анализ элементов с атомным номером не менее 11 и энергетическая спектрометрия для количественного анализа (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 17359-2023
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2023
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 17359-2023
заменять
GB/T 17359-2012
 

сфера применения

GB/T 17359-2023 Микролучевой анализ - Энергодисперсионная спектрометрия - Интерпретация стандарта количественного анализа

I. Предпосылки создания стандарта и технологическое развитие

GB/T 17359-2023, «Микробучий анализ - Энергодисперсионная спектрометрия», является пересмотренным вариантом исходного стандарта GB/T 17359-2012, в первую очередь касающимся применения энергодисперсионной спектроскопии (ЭДС) для количественного анализа элементов с атомными номерами не менее 11. В этом пересмотренном варианте вводятся новые технические требования и нормативные ссылки для адаптации к техническим условиям моей страны и повышения работоспособности.

II. Сравнение стандартных рамок

Размеры GB/T 17359-2012 GB/T 17359-2023 Примечания к сравнению
Термины и определения Содержит такие термины, как поправка на поглощение и поправка на атомный номер. Такие термины, как поправка на поглощение, были удалены, а определения энергетического и пространственного разрешения были оптимизированы. Устаревшие термины были удалены, а технические детали были уточнены.
Подготовка образцов Поверхность образца должна быть гладкой и однородной. Требования к проводимости образца и удалению загрязняющих веществ были уточнены. Повышенные требования к проводимости и усиленные характеристики очистки.
Подготовка прибора Определяет ускоряющий диапазон напряжения и стабильность детектора. Вводит новые методы измерения эффективности детектора и требования к калибровке энергетической шкалы. Повышенный контроль характеристик детектора для повышения аналитической точности.

III. Объяснение терминологии и примеры применения

Идентификация пиков: Автоматическая идентификация пиков программным обеспечением должна учитывать влияние тяжелых и убегающих пиков. Например, при анализе легких элементов линии Ti-K и VL могут мешать.

Коррекция матричного эффекта: Включает методы коррекции ZAF (атомный номер, поглощение, флуоресценция). Содержание лёгких элементов можно рассчитать путём расчёта разницы для стехиометрически связанных образцов (например, кислорода в силикатных минералах).

IV. Рекомендации по внедрению

  1. Выбор и калибровка оборудования:Выберите энергетический спектрометр, соответствующий стандартным требованиям, и регулярно калибруйте энергетическую шкалу и эффективность детектора, чтобы гарантировать, что разрешение достигает приемлемого значения.
  2. Подготовка образца:Строго соблюдайте требования к проводимости и однородности, а также используйте эталонные материалы для перекрестной проверки.
  3. Анализ данных:Используйте функцию удаления пиков программного обеспечения, чтобы вручную скорректировать помехи от низкоэнергетических спектральных пиков, чтобы обеспечить точность результатов.
  4. Оценка неопределенности:Запишите все экспериментальные параметры и оцените источники погрешности измерений с помощью проверки повторяемости и воспроизводимости.

GB/T 17359-2023 Ссылочный документ

  • GB/T 17359 Микролучевой анализ элементов с атомным номером не менее 11 и энергетическая спектрометрия для количественного анализа
  • GB/T 20726 Основные параметры производительности и методы проверки рентгеновских энергодисперсионных спектрометров (EDS), используемых в сканирующих электронных микроскопах (SEM) или электронной микроразведке (EPMA)*2025-08-29 Обновление
  • GB/T 27025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий
  • GB/T 27788 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • GB/T 30705 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.

GB/T 17359-2023 История

  • 2023 GB/T 17359-2023 Микролучевой анализ элементов с атомным номером не менее 11 и энергетическая спектрометрия для количественного анализа
  • 2012 GB/T 17359-2012 Микролучевой анализ. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии.
  • 1998 GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
Микролучевой анализ элементов с атомным номером не менее 11 и энергетическая спектрометрия для количественного анализа

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

GB/T 4298-1984 Метод активационного анализа для определения элементарных примесей в полупроводниковых кремниевых материалах JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ GB/T 3532-2009 Домашняя фарфоровая посуда ISO 10110-8:2010 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 8. Фактура поверхности; шероховатость и волнистость GB/T 17359-2012 Микролучевой анализ. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии. KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии SN/T 3601-2013 Определение общей серы в графите. Инфракрасная абсорбционная спектрометрия. GB/T 13298-2015 Методы контроля микроструктуры металлов ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений. ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии GB/T 6346.1-2024 Конденсаторы постоянной емкости для электронного оборудования Часть 1. Общие технические характеристики ASTM E7-22 Стандартная терминология, относящаяся к металлографии GB/T 4587-2023 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 7. Биполярные транзисторы. KS I 0051-2024 Общие правила сканирующей электронной микроскопии JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии JY/T 0583-2020 Общие правила методов анализа систем сфокусированного ионного пучка



© 2025. Все права защищены.