IEC 60811-201:2012/AMD1:2017/AMD2:2023 CSV
Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 201. Общие испытания. Измерение толщины изоляции.

Стандартный №

IEC 60811-201:2012/AMD1:2017/AMD2:2023 CSV

Дата публикации

2023

Разместил

IX-IX-IEC

Последняя версия

IEC 60811-201:2012/AMD1:2017/AMD2:2023 CSV

IEC 60811-201:2012/AMD1:2017/AMD2:2023 CSV История

• 2023 IEC 60811-201:2012/AMD2:2023 Поправка 2. Кабели электрические и волоконно-оптические. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 201. Общие испытания. Измерение толщины изоляции.
• 1970 IEC 60811-201:2023
• 2017 IEC 60811-201:2012/AMD1:2017 Кабели электрические и волоконно-оптические. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 201. Общие испытания. Измерение толщины изоляции; Поправка 1
• 2017 IEC 60811-201:2017 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 201. Общие испытания. Измерение толщины изоляции.
• 2012 IEC 60811-201:2012 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 201. Общие испытания. Измерение толщины изоляции.