BS PD ISO/TR 23015:2020
Тонкая пузырьковая технология. Матрица методов измерения для определения характеристик мелких пузырьков

Стандартный №: BS PD ISO/TR 23015:2020
Дата публикации: 2020
Разместил: SCC
Последняя версия: BS PD ISO/TR 23015:2020

сфера применения: В этом документе основное внимание уделяется перечислению наиболее часто используемых методов подготовки и определения характеристик мелких пузырьков, а также их интерпретации. Описаны достоинства и ограничения каждого из методов.

BS PD ISO/TR 23015:2020 История

2020 BS PD ISO/TR 23015:2020 Тонкая пузырьковая технология. Матрица методов измерения для определения характеристик мелких пузырьков

стандарты и спецификации

PD ISO/TR 23015:2020 Тонкая пузырьковая технология. Матрица методов измерения для определения характеристик мелких пузырьков ISO/TS 4240-1:2023 Мелкопузырчатая технология. Применение в окружающей среде. Часть 1. Метод контроля с использованием онлайн-счетчика частиц на установке флотации растворенным ISO 19430:2024 Определение распределения частиц по размерам и числовой концентрации методом отслеживания частиц (PTA ASTM E515-05 Стандартный метод испытаний на утечки с использованием методов эмиссии пузырьков BS EN 60556:2006 Гиромагнитные материалы, предназначенные для применения на сверхвысоких частотах. Методы измерения свойств IEC 61747-30-4:2016 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-4. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Устройства динамической подсветки IEC 62047-31:2017 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 31. Метод испытания на четырехточечный изгиб для определения энергии межфазной адгезии GSO IEC 61747-30-4:2021 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-4. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Устройства динамической подсветки DIN EN ISO 19634:2021 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Керамические композиты. Обозначения и символы (ISO 19634:2017

© 2024. Все права защищены.