GB/T 43493.3-2023 Неразрушающий контроль и критерии идентификации дефектов гомоэпитаксиальных пластин карбида кремния для силовых приборов полупроводниковых приборов Часть 3. Фотолюминесцентный метод обнаружения дефектов (Англоязычная версия)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 43493.3-2023
GB/T 43493.3-2023 История
2023GB/T 43493.3-2023 Неразрушающий контроль и критерии идентификации дефектов гомоэпитаксиальных пластин карбида кремния для силовых приборов полупроводниковых приборов Часть 3. Фотолюминесцентный метод обнаружения дефектов