BS EN IEC 60749-5:2024
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Испытание на долговечность при установившейся температуре и влажности при смещении.
- Стандартный №
- BS EN IEC 60749-5:2024
- Дата публикации
- 2024
- Разместил
- British Standards Institution (BSI)
- Последняя версия
- BS EN IEC 60749-5:2024
- сфера применения
- В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены испытания на долговечность при устойчивом смещении температуры и влажности для оценки надежности негерметичных полупроводниковых устройств в корпусе во влажной среде. Этот метод испытаний считается разрушительным.
BS EN IEC 60749-5:2024 Ссылочный документ
- IEC 60749-4 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
BS EN IEC 60749-5:2024 История
- 2024 BS EN IEC 60749-5:2024 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Испытание на долговечность при установившейся температуре и влажности при смещении.
стандарты и спецификации
IEC 60749-5:2023 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
CEI EN IEC 60749-5:2024 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре и влажности
IEC 60749-5:2017 приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
DS/EN 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
IEC 60749-5:2023 RLV Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
IEC PAS 62161:2000 Испытание на срок службы при установившейся температуре и влажности
GSO IEC 60749-5:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
DIN EN IEC 60749-5:2024-09*VDE 0884-749-5:2024-09 Полупроводниковые приборы – Методы механических и климатических испытаний
IEC 60749-7/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов