IPC TM-650 2.2.13.1A-1983 Толщина покрытия в отверстиях Метод микроомов - Стандарты и спецификации PDF

IPC TM-650 2.2.13.1A-1983
Толщина покрытия в отверстиях Метод микроомов

Стандартный №
IPC TM-650 2.2.13.1A-1983
Дата публикации
1983
Разместил
IPC - Association Connecting Electronics Industries
сфера применения
Метод неразрушающего контроля для определения качества сквозных соединений печатных плат. 1.2 Теория. Медь будет иметь удельное сопротивление известной величины в зависимости от геометрии оболочки и проводимости меди. Если оболочка неоднородна, дефекты, такие как трещины, пустоты или тонкие пятна в меди, приведут к тому, что измеренное сопротивление окажется выше теоретического значения. Это значение рассчитывается с использованием уравнения, приведенного на рис. 1.



© 2023. Все права защищены.