KS L 2108-2001(2016) Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке - Стандарты и спецификации PDF

KS L 2108-2001(2016)
Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке

Стандартный №
KS L 2108-2001(2016)
Дата публикации
2001
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние
 2021-01
быть заменен
KS L 2108-2021
Последняя версия
KS L 2108-2021
 

Введение
Данный стандарт описывает методы определения прочности сцепления тонких пленок, нанесенных на стеклянные подложки. В документе приведены подробные процедуры, необходимые для выполнения тестов, включая подготовку образцов, оборудование, используемое для проведения испытаний, а также условия их реализации. Также описаны способы оценки результатов, полученных в ходе экспериментов. Стандарт направлен на обеспечение воспроизводимости и точности измерений, что позволяет получать надежные данные для дальнейшего анализа и применения в соответствующих областях. В тексте содержатся рекомендации по интерпретации полученных результатов и их использованию в практической деятельности.

KS L 2108-2001(2016) История

  • 2021 KS L 2108-2021 Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке
  • 0000 KS L 2108-2001(2016)
  • 2001 KS L 2108-2001 Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

JIS R 3255:1997 Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке KS L 2108-2001 Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке KS L 2108-2021 Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке KS L 2108-2001(2021 Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке IEC 62951-1:2017 Полупроводниковые приборы. Гибкие и растяжимые полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб проводящих тонких пленок на гибких подложках ASTM B905-10 Стандартные методы испытаний для оценки адгезии металлических и неорганических покрытий с помощью механизированного липкого теста GSO IEC 62047-22:2021 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких EN 62047-22:2014 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких IEC 62047-22:2014 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких



© 2025. Все права защищены.