Анализ основного содержания стандарта
BS ISO 9211-1:2024, как базовый терминологический стандарт в области оптических покрытий, установил полную систему определений, охватывающую технологию обработки поверхности оптических компонентов. По сравнению с версией 2018 года, в последней версии в основном добавлено:
- Четкое определение спектральной оптической плотности (D(λ))
- Спецификации аннотаций нижних индексов для средних значений длины волны/волнового числа
- Объяснение различий между расчетами пропускания/отражения/поглощения в области длин волн и в области волновых чисел
Система параметров оптических характеристик
| Тип параметра | Представление символа | Формула расчета | Точки измерения |
| Спектральное пропускание | τ(λ) | τ(λ)=10-D(λ) | Необходимо различать зеркальное пропускание и диффузное пропускание |
| Усреднённый по длине волны коэффициент пропускания | τave(λ1→λ2) | 1/(λ2-λ1)∫τ(λ)dλ | Имеется систематическое отличие от среднего волнового числа |
| Оптическая плотность | D(λ) | lg(1/τ(λ)) | Новый стандартизированный определения |
Система классификации функций покрытия
Стандарт делит покрытия на 10 категорий в соответствии с их основными функциями. Типичные области применения включают в себя:
- Функция отражения (RE): линзы лазерного резонатора должны соответствовать характеристикам HR (высокое отражение).
- Функция фильтрации (FI): Рамановские спектрометры используют полосовые фильтры типа FI-BR.
- Управление фазой (PC): покрытие волновой пластины может достигать λ/4 фазовой задержки.
Стоит отметить, что компоненты составной функции, такие как дихроичные зеркала, должны быть маркированы символами SC (спектроскопия) и LP/SP (длинный/короткий проход).
Атлас классификации дефектов покрытий
В стандарте впервые систематически определены четыре типа морфологии дефектов:
- Точечные дефекты: включая проколы (≤50 мкм), брызги и т. д.
- Линейные дефекты: царапины для различения обычных и волосяных типов (≤3 мкм)
- Поверхностные дефекты: проблемы оптической однородности, такие как помутнение и изменение цвета
- Объемные дефекты: дефекты интерфейса, такие как образование пузырей и отслоение
В соответствующем стандарте ISO 14997 приведены стандарты для методов обнаружения дефектов.
Предложения по реализации
Примечания для инженерных приложений:
- Образцы-свидетели должны обрабатываться в той же партии, что и фактические компоненты
- Состояние поляризации (компонент S/P) должно быть отмечено при использовании при ненулевых углах падения
- В приложениях с широким спектром необходимо четко использовать алгоритмы усреднения длины волны или волнового числа