DIN IEC/TS 61967-3:2015-08*VDE V 0847-21-3:2015-08
Интегральные схемы – Измерение электромагнитных излучений

Стандартный №

DIN IEC/TS 61967-3:2015-08*VDE V 0847-21-3:2015-08

Дата публикации

2015

Разместил

German Institute for Standardization

Последняя версия

DIN IEC/TS 61967-3:2015-08*VDE V 0847-21-3:2015-08

сфера применения

Часть 3: Измерение излучаемых излучений – Метод сканирования поверхностиЭта часть IEC 61967 содержит процедуру испытаний, которая определяет метод оценки для компонентов ближнего электрического, магнитного или электромагнитного поля на или около поверхности интегральной схемы (ИС). Этот метод обеспечивает отображение ближнего электрического или магнитного поля излучений над ИС и предназначен для использования до 6 ГГц.

DIN IEC/TS 61967-3:2015-08*VDE V 0847-21-3:2015-08 История

• 2015 DIN IEC/TS 61967-3:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 3. Измерение излучаемого излучения. Метод поверхностного сканирования (IEC/TS 61967-3:2014).
• 2012 DIN IEC/TS 61967-3:2012 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 3. Измерение излучаемого излучения. Метод поверхностного сканирования. Интегральные схемы (IEC 47A/880/CD:2012).

стандарты и спецификации