BS IEC 62047-44:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний динамических характеристик МЭМС-резонансных устройств, чувствительных к электрическому полю. - Стандарты и спецификации PDF

BS IEC 62047-44:2024
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний динамических характеристик МЭМС-резонансных устройств, чувствительных к электрическому полю.

Стандартный №
BS IEC 62047-44:2024
Дата публикации
2024
Разместил
British Standards Institution (BSI)
Последняя версия
BS IEC 62047-44:2024
 

Введение
Раздел данного стандарта описывает методы измерения динамических характеристик микромеханических систем (ММС), чувствительных к электрическому полю, используемых в качестве резонаторов. Этот документ предназначен для инженеров и исследователей, занимающихся разработкой, производством и тестированием таких устройств. Он涵盖了测试方法、设备要求以及如何评估这些微机电系统的性能。该标准为确保此类器件的可靠性和一致性提供了重要的指导。

BS IEC 62047-44:2024 История

  • 2024 BS IEC 62047-44:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний динамических характеристик МЭМС-резонансных устройств, чувствительных к электрическому полю.

стандарты и спецификации

IEC 62047-44:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 44. Методы испытаний динамических характеристик МЭМС-резонансных устройств, чувствительных к электрическому полю. BS IEC 62047-34:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний пьезорезистивного устройства MEMS, чувствительного к давлению на пластине BS IEC 62047-33:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - МЭМС пьезорезистивные чувствительные к давлению устройства DIN EN 62047-18 E:2011-06 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 18. Методы испытаний тонкопленочных материалов на изгиб IEC 62047-43:2024 Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические приборы - Часть 43: Метод испытания электрических характеристик после циклической изгибной деформации BS IEC 62047-29:2017 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытания на электромеханическую релаксацию отдельно стоящих проводящих тонких пленок DIN EN 62047-28 E:2015-09 Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические приборы - Часть 28: Методы функциональных испытаний для устройств сбора энергии с электрическим приводом BS EN 62047-4:2010 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Общая спецификация для MEMS IEC 62047-4:2008 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 4. Общие спецификации для МЭМС



© 2025. Все права защищены.