IECEE OD-2012-2022
Субподряд на проведение испытаний (OD 2012)

Стандартный №: IECEE OD-2012-2022
Дата публикации: 2022
Разместил: International Electrotechnical Commission (IEC)

сфера применения: Этот документ определяет концепции и требования к аутсорсингу испытаний в рамках системы оценки соответствия Международной электротехнической комиссии (МЭК).

Субподряд на проведение испытаний (OD 2012)

стандарты и спецификации

IECEE OD-2005-2018 Отчет об оценке испытательной лаборатории Системы оценки соответствия электрооборудования и компонентов (Система IECEE NS-EN ISO 22476-5:2012 Геотехнические исследования и испытания. Полевые испытания. Часть 5. Испытание гибким дилатометром (ISO 22476-5:2012 DS/EN ISO 22476-5:2013 Геотехнические исследования и испытания. Полевые испытания. Часть 5. Испытание гибким дилатометром CFR 49-239.301-2014 Транспорт. Часть 239: Готовность пассажирского поезда к чрезвычайным ситуациям. Раздел 239.301: Эксплуатационные испытания и проверки DS/EN ISO 7539-1:2013 Коррозия металлов и сплавов. Коррозионные испытания под напряжением. Часть 1. Общее руководство по процедурам испытаний SS-EN ISO 7539-1:2013 Тестирование на коррозию металлов и сплавов - Часть 1: Общие рекомендации по методам испытаний (ISO 7539-1:2012 AS ISO 22915.13:2015 Промышленные грузовые автомобили. Проверка устойчивости. Часть 13. Внедорожные грузовые автомобили с мачтой DS/EN ISO 22476-7:2013 Геотехнические исследования и испытания. Полевые испытания. Часть 7. Испытание скважинного домкрата DIN EN 61747-3 E:2013-04 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация в разрезе

IECEE OD-2012-2022 - Все части

IECEE OD-1000-2022 Многостороннее соглашение по схеме IECEE CB IECEE OD-2004-2022 Система схем оценки соответствия МЭК для электротехнического оборудования и компонентов (система МЭК) IECEE OD-2005-2-2022 Отчет об оценке испытательной лаборатории IECEE OD-2005-2018 Отчет об оценке испытательной лаборатории Системы оценки соответствия электрооборудования и компонентов (Система IECEE) IECEE OD-2006-2022 Руководящие принципы и информация для оценок IECEE: процедуры и документация IECEE OD-2007-F3-2020 Контрольный список переезда: заполняется CBTL/SPTL IECEE OD-2007-F1-2022 Рабочий документ IECEE — контрольный список для органов сертификации (ISO/IEC 17065) IECEE OD-2007-F2a-2019 Контрольный список для испытательной и калибровочной лаборатории IECEE OD-2007-F2b-2022 КОНТРОЛЬНЫЙ СПИСОК ДЛЯ ИСПЫТАТЕЛЬНЫХ И КАЛИБРОВОЧНЫХ ЛАБОРАТОРИЙ IECEE OD-2007-F3-2020 Контрольный список переезда: заполняется CBTL/SPTL IECEE OD-2010-2020 Система схем оценки соответствия IECEE для электротехнического оборудования и компонентов: Форма заявки Национального органа по сертификации (NCB) - OD-2010 IECEE OD-2011-2020 Система схем оценки соответствия МЭК для электротехнического оборудования и компонентов (система МЭК) IECEE OD-2013-2016 Руководство для испытательных лабораторий (CBTL) по составлению перечня испытательного и измерительного оборудования IECEE OD-2016-2015 Контрольный список для органов сертификации IECEE OD-2017-2018 Контрольный список для испытательных и калибровочных лабораторий IECEE OD-2020-F8-2022 Шаблон TRF кибербезопасности IECEE OD-2020-F1-2022 Номер ссылки IEC или ISO IECEE OD-2020-F2-2022 Европейские различия и различия в национальных стандартах IECEE OD-2020-F3-2020 Шаблон национальных различий IECEE OD-2020-F4-2021 Международный совет инженеров по электротехнике и электронике OD-2020-F4:2021 IECEE OD-2020-F5-2020 Правила маркировки энергоэффективности IECEE OD-2020-F6-2017 Шаблон описания продукта IECEE OD-2020-F7-2021 Шаблон формы отчета об испытаниях на электромагнитную совместимость IECEE OD-2020-F8-2022 Шаблон TRF кибербезопасности IECEE OD-2021-2020 Система схем оценки соответствия МЭК для электротехнического оборудования и компонентов (система МЭК) IECEE od-2024-2021 Руководство для испытательных лабораторий (CBTL) по составлению перечня испытательного и измерительного оборудования IECEE od-2024-2021 Руководство для испытательных лабораторий (CBTL) по составлению перечня испытательного и измерительного оборудования IECEE OD-2025-B-2016 ЭКСПЛУАТАЦИОННЫЙ ДОКУМЕНТ - CTF - Испытательная установка заказчика - Отчет об оценке CTF (этапы CTF 3 и 4) IECEE OD-2026-F1-2021 Руководство для испытательных лабораторий (CBTL) по составлению перечня испытательного и измерительного оборудования IECEE OD-2026-F1-2021 Руководство для испытательных лабораторий (CBTL) по составлению перечня испытательного и измерительного оборудования IECEE OD-2033-2022 Элементы процесса, связанные с нарушениями правил IECEE OD-2034-F1-2020 Отчет NCB LTR в Секретариат IECEE 2020-06-03 IECEE OD-2034-F1-2020 Отчет NCB LTR в Секретариат IECEE 2020-06-03 IECEE OD-2037-F3-2022 Программа повышения квалификации в области промышленной кибербезопасности IECEE OD-2037-F1-2020 Шаблон CBTC IECEE OD-2037-F2-2020 Шаблон заявления о результатах испытаний IECEE OD-2037-F3-2022 Программа повышения квалификации в области промышленной кибербезопасности IECEE OD-2039-2021 Приемка компонентов в рамках IECEE и матрицы приемки компонентов IECEE OD-2040-2019 Общее понимание ISO/IEC 17025:2005 IECEE OD-2041-2010 Руководство по семействам и сериям продуктов IECEE OD-2043-2020 Требования к заявлениям на членство в IECEE IECEE OD-2044-2021 Оценка управления рисками в медицинском электрооборудовании в соответствии с серией стандартов IEC 60601-1 и ISO/IEC 80601-1 IECEE OD-2045-2021 Рабочий документ IECEE для Системы схем оценки соответствия МЭК для электротехнического оборудования и компонентов (Система IECEE) IECEE OD-2048-F3-2018 Отчет об оценке CTF (CTF этапы 3 и 4) IECEE OD-2048-F1-2022 Руководство для испытательных лабораторий (CBTL) по составлению перечня испытательного и измерительного оборудования IECEE OD-2048-F2-2-2020 Отчет об оценке CTF (CTF этапы 1 и 2) на основе ISO/IEC 17025:2017 IECEE OD-2048-F2-2019 Отчет об оценке CTF (этапы CTF 1 и 2) IECEE OD-2048-F3-2-2021 Отчет об оценке CTF (CTF фазы 3 и 4) IECEE OD-2048-F3-2018 Отчет об оценке CTF (CTF этапы 3 и 4) IECEE OD-2050-2010 Соглашение о лицензировании знака качества фотоэлектрических систем и печати качества фотоэлектрических систем

© 2025. Все права защищены.