BS ISO 17520:2024
Космическая среда (естественная и искусственная). Проникновение космических лучей и солнечных энергетических частиц внутрь магнитосферы. Метод определения эффективной жесткости вертикального отсекания

Стандартный №

BS ISO 17520:2024

Дата публикации

2024

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS ISO 17520:2024

сфера применения

Технический обзор стандартов проникновения космических лучей

Стандарт BS ISO 17520:2024 устанавливает методики расчета эффективной вертикальной жесткости отсечки (EVCR) заряженных частиц в околоземном космическом пространстве. Эта редакция заменяет издание 2016 года и включает в себя следующие ключевые обновления:

Особенности	Издание 2016 года	Издание 2024 года
Эталонная эпоха	2005-2015	2005-2020
Модели IGRF	Базовые таблицы для 3 эпох	Добавлены данные эпохи 2020 года
Точность	±2%	Улучшено проверка

---

Основная методология расчетов

Стандарт определяет методы отслеживания траектории отрицательно заряженных частиц с использованием:

• моделей IGRF для внутренних геомагнитных полей
• моделей Цыганенко для внешних магнитосферных эффектов

Критические параметры включают:

• Географические координаты (λ, φ)
• Диапазон высот: 250–20 000 км
• Кр-индекс (шкала 0–9)
• Местное время (T)

---

Руководство по внедрению

Для операционных приложений:

1. Используйте таблицы B.1–B.4 для получения опорных значений IGRF
2. Примените поправку на высоту по формуле (B.2)
3. Рассчитайте эффекты возмущений с помощью уравнений (B.3–B.6)

Практический пример

Для спутника на высоте 1000 км (λ=10°, φ=0°) во время умеренной геомагнитной активности (Kp=3):

• Базовое R₀ = 12,684 ГВ (из таблицы B.4)
• R₀ с поправкой на высоту = 12,421 ГВ
• Конечное R_eff = 10,751 ГВ (согласно проверке таблицы B.5)

---

Техническое развитие

Стандарт отражает 8 лет достижений в области исследований магнитосферы:

• Улучшенная корреляция (r=0,998) со справочными данными 1990 года
• Расширенная область действия до нижнего предела 0,2 ГВ
• Усовершенствованные аналитические уравнения для моделирования возмущений

BS ISO 17520:2024 История

• 2024 BS ISO 17520:2024 Космическая среда (естественная и искусственная). Проникновение космических лучей и солнечных энергетических частиц внутрь магнитосферы. Метод определения эффективной жесткости вертикального отсекания
• 2016 BS ISO 17520:2016 Космическая среда (естественная и искусственная). Проникновение космических лучей и солнечных энергетических частиц внутрь магнитосферы. Метод определения эффективной жесткости вертикального отсекания

стандарты и спецификации