483-1981 Стандартный метод испытания эффективного последовательного сопротивления (ESR) и емкости многослойных керамических конденсаторов на высоких частотах (редакционная корректировка - февраль 1982 г.)
Этот метод обеспечивает процедуры измерения эффективного последовательного сопротивления (ESR) и емкости многослойных керамических конденсаторов в диапазоне частот от 25 МГц до 1,25 ГГц. Последовательное соединение позволяет измерять емкость от менее 1 пФ до более 1 нФ на частотах от 130 МГц до 1,25 ГГц. Максимального значения емкости для серийных измерений esr@ не существует, но определение больших значений емкости на высоких частотах страдает неточностью. ESR конденсаторов можно измерить этим методом на частотах, превышающих собственную резонансную частоту испытуемого конденсатора. Шунтовое соединение позволяет измерять емкость от 0 до 200 пФ на частотах от 25 до 910 МГц. Пределы, указанные для частоты и емкости при измерениях с помощью шунта, могут быть превышены при условии, что испытуемый образец не находится на собственной резонансной частоте или близко к ней и соблюдены меры предосторожности, указанные в разделе 6.0.