TIA/EIA-455-176-1993 Метод FOTP-176 для измерения геометрии поперечного сечения оптического волокна путем автоматического анализа шкалы серого - Стандарты и спецификации PDF

TIA/EIA-455-176-1993
Метод FOTP-176 для измерения геометрии поперечного сечения оптического волокна путем автоматического анализа шкалы серого

Стандартный №
TIA/EIA-455-176-1993
Дата публикации
1993
Разместил
TIA - Telecommunications Industry Association



© 2023. Все права защищены.