IEC 60793-1-40:2024 RLV
Оптические волокна. Часть 1-40: Методы измерения затухания
- Стандартный №
- IEC 60793-1-40:2024 RLV
- Дата публикации
- 2024
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60793-1-40:2024 RLV
- сфера применения
-
Обзор стандарта и техническая информация
IEC 60793-1-40 — окончательный стандарт для методов измерения затухания в оптических волокнах, опубликованный Международной электротехнической комиссией. Третье издание этого стандарта, выпущенное в 2019 году, заменяет предыдущее. Основные технические обновления этого стандарта включают пересмотр определения затухания для приведения его в соответствие с определением, представленным на сайте electropedia.org. Этот стандарт устанавливает унифицированные требования к измерениям для коммерческой инспекции оптических волокон и кабелей, охватывая четыре основных метода измерения затухания.
Архитектура метода измерения
Стандарт определяет четыре метода измерения затухания, каждый со своими собственными конкретными сценариями применения и техническими требованиями:
Метод измерения Применимый тип волокна Точность измерения Характеристики применения Метод A: Метод усечения Все многомодовые волокна класса A и одномодовые волокна класса B ±0,05 дБ Метод эталонных измерений, разрушающий тест Метод B: Метод вносимых потерь Все многомодовые волокна класса A и одномодовые волокна класса B волокна ±0,1 Метод C: Метод обратного рассеяния Все многомодовые волокна категории A и одномодовые волокна категории B ±0,05 дБ/км Можно обнаружить точечные разрывы с помощью оборудования OTDR Метод D: Метод моделирования спектрального затухания Только одномодовые волокна категории B ±0,02 дБ/км На основе модельного расчета, подходит для передачи на большие расстояния Технические требования к основным измерениям
Калибровка требования
Глава 4 стандарта определяет требования к калибровке для всего измерительного оборудования для обеспечения точности и сопоставимости результатов измерений. Калибровка должна выполняться в соответствии с IEC 61746-1 (калибровка одномодового волокна OTDR) и IEC 61746-2 (калибровка многомодового волокна OTDR). Глава 7 подробно описывает требования к подготовке образцов, включая длину образца и обработку торца: Длина образца: определяется типом волокна и методом измерения, как правило, не менее 100 метров Обработка торца: отклонение угла торца не должно превышать 0,5°, а шероховатость поверхности должна быть менее 0,02 мкм. Глава 8 определяет общие процедуры измерений, включая контроль условий окружающей среды (температура 23±1°C, влажность 50±10%RH), требования к стабильности источника света (колебание мощности менее ±0,05 дБ) и проверку повторяемости измерений (усреднение не менее трех измерений).
Подробные технические характеристики для каждого метода
Метод A: Технические требования для метода усечения
В Приложении A указаны конкретные технические требования для метода усечения, в том числе:
- Общая конфигурация оборудования: Требуются стабильный источник света, измеритель оптической мощности и прецизионные режущие инструменты
- Условия инжекции: Для одномодового волокна требуется согласование модового поля, а для многомодового волокна — условия полной инжекции
- Требования к калибровке: Калибровка системы должна быть выполнена перед измерением, чтобы обеспечить точность опорной мощности
Метод B: Ключевые моменты для реализации метода вносимых потерь
В Приложении B разъясняются особые требования для метода вносимых потерь:
- Требуются прецизионные разъемы, а обратные потери должны быть более 50 дБ
- Калибровка опорной установки должна включить влияние пары разъемов
- Неопределенность измерения должна учитывать фактор повторяемости соединения
Метод C: Требования к оборудованию для метода обратного рассеяния
В Приложении C подробно описано следующее: class='instrument'>OTDR Технические параметры оборудования:
Параметры Требования к одномодовому волокну Требования к многомодовому волокну Влияние точности испытания Ширина импульса 10 нс–1 мкс 10 нс–100 нс Определяет пространственное разрешение Динамический диапазон ≥35 дБ ≥30dB Определяет измеряемую длину волокна Разрешение выборки ≤0.1m ≤0.5m Влияет на точность определения места повреждения Метод D: Применение метода моделирования спектрального затухания
В Приложении D указаны специальные требования к методу моделирования спектрального затухания. Этот метод применим только к одномодовому оптическому волокну класса B. Модель затухания устанавливается на основе геометрических параметров и свойств материала оптического волокна. Значения затухания на различных длинах волн получаются расчетным путем.
Спецификации отчета о результатах измерений
Глава 10 определяет требования к отчету о результатах измерений, включая:
- Информация, которая должна быть предоставлена для каждого измерения: дата измерения, условия окружающей среды, модель оборудования, оператор
- Информация, которая должна быть предоставлена по запросу: исходные данные, сертификат калибровки, анализ неопределенности измерений
- Дополнительная информация, специфичная для метода: например, ширина импульса OTDR и количество усреднений
Технологическое развитие и разработка стандарта
Основные технические изменения в этой третьей редакции стандарта по сравнению с предыдущей редакцией включают:
- Обновленное определение затухания для обеспечения совместимости с electropedia.org
- Ссылки на требования к условиям ввода многомодового волокна
- Добавление мер предосторожности для измерений волокна с полимерным сердечником
- Улучшение характеристики Метод определения разрывов в точках измерения OTDR
Эти изменения отражают новейшие разработки в области технологий измерения оптоволокна, в частности возросшие требования к точности измерений для высокоскоростных оптоволоконных систем связи.
Рекомендации по внедрению и передовой опыт
Руководство по выбору метода
Выберите подходящий метод измерения в соответствии с различными сценариями применения:
- Измерение лабораторной точности: Предпочтительным является метод усечения (метод A)
- Испытание в полевых условиях: Рекомендуется метод обратного рассеяния (метод C)
- Испытание потерь в разъеме: Метод вносимых потерь (метод B)
- Проектирование системы на большие расстояния: Можно использовать метод моделирования спектрального затухания (метод D)
Контроль неопределенности измерений
Для обеспечения надежности результатов измерений рекомендуется:
- Регулярно калибровать измерительное оборудование и создавать файлы оборудования
- Строго контролировать окружающую среду условия, особенно температура и влажность
- Использовать статистические методы для обработки неопределенности измерений ...
Требования к обучению персонала
Операторы должны обладать следующими навыками:
- Понимать принципы и применимую область различных методов измерений
- Владеть процедурами эксплуатации и калибровки оборудования
- Уметь выполнять анализ неопределенности измерений
- Иметь возможность выявлять и устранять распространенные ошибки измерений
Анализ стандартного случая применения
В Приложении E приведены примеры результатов испытаний короткого кабеля многомодового волокна A1, включая:
- Результаты испытаний коэффициента затухания волокна OM2 (A1a.1)
- Результаты испытаний коэффициента затухания волокна OM4 (A1a.3)
- Результаты испытаний коэффициента затухания волокна OM1 (A1b)
Эти примеры служат эталоном для практического применения, помогая пользователям оценить рациональность результатов измерений.
Тенденции развития
С развитием 5G, Интернета вещей и центров обработки данных к технологии измерения затухания оптического волокна предъявляются новые требования:
- Повышенные требования к точности измерений, особенно для оптических волокон с низким затуханием
- Высокие скорости измерений для крупномасштабного развертывания оптических волокон
- Интеллектуальный анализ данных измерений для обеспечения предиктивного обслуживания
- Комплексное многопараметрическое измерение для одновременного получения таких параметров, как затухание и дисперсия
Эти тенденции развития будут стимулировать разработку и совершенствование стандартов измерения оптического волокна следующего поколения.
IEC 60793-1-40:2024 RLV Ссылочный документ
- IEC 60793-1-1 Оптические волокна. Часть 1-1. Методы измерения и процедуры испытаний. Общие сведения и рекомендации.
- IEC 61746-1 Калибровка оптических рефлектометров во временной области (OTDR). Часть 1. OTDR для одномодовых волокон.
- IEC 61746-2 Калибровка оптических рефлектометров во временной области (OTDR). Часть 2: OTDR для многомодовых волокон.
IEC 60793-1-40:2024 RLV История
- 0000 IEC 60793-1-40:2024 RLV
- 0000 IEC 60793-1-40:2019 RLV
- 2001 IEC 60793-1-40:2001 Волокна оптические. Часть 1-40. Методы измерений и процедуры испытаний; Затухание
