IEC 60793-1-2:1995+AMD1:1996+AMD2:2000 CSV
Оптические волокна. Часть 1-2. Общие спецификации. Методы измерения размеров.

Стандартный №

IEC 60793-1-2:1995+AMD1:1996+AMD2:2000 CSV

Дата публикации

2000

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2006-11

быть заменен

IEC 60793-1-2:2001

Последняя версия

IEC 60793-1-2:2001

заменять

en

сфера применения

Приводятся методы измерения, применимые к испытаниям оптических волокон на воздействие окружающей среды. Методы предполагается использовать для контроля оптических волокон коммерческого назначения. Они устанавливают единые требования к геометрическим характеристикам оптических волокон.

IEC 60793-1-2:1995+AMD1:1996+AMD2:2000 CSV История

• 2001 IEC 60793-1-2:2001 Оптические волокна. Часть 1-2. Общие методы измерения размеров (издание 1.2)
• 2000 IEC 60793-1-2:1995/AMD2:2000 Поправка 2. Оптические волокна. Часть 1. Общая спецификация. Раздел 2. Методы измерения размеров.
• 1996 IEC 60793-1-2:1995/AMD1:1996 Поправка 1. Оптические волокна. Часть 1. Общая спецификация. Раздел 2. Методы измерения размеров.
• 1995 IEC 60793-1-2:1995 Оптические волокна. Часть 1. Общие спецификации. Раздел 2. Методы измерения размеров.

стандарты и спецификации